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日本JEOL可移動式掃描電子顯微鏡 JCM-5700

價  格：詢價

產  地：日本更新時間：2020-10-20 14:08

品  牌：JEOL型  號：JCM-5700

狀  態(tài)：正常點擊量：2789

400-006-7520
聯(lián)系我時，請說明是在上海非利加實業(yè)有限公司上看到的，謝謝！

上海非利加實業(yè)有限公司

聯(lián) 系 人： 上海非利加實業(yè)有限公司

電   話： 400-006-7520

傳   真： 400-006-7520

配送方式： 上海自提或三方快遞

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  • 生產現(xiàn)場-研究室用SE

  • 在任何地方都可以使用的高性能可移動式SEM

  • 運行成本低(長時間不用維護)

  • 檢查項目-研究題目等各項條件均可記憶

  • 任何人都可以得到良好結果的高度再現(xiàn)性

  • 可以設定獨立的操作條件，使用更加自由的MY SEM

  • 輕松獲得幾萬倍的圖像

  • 簡單友好的操作界面

  • 儀器啟動僅需3分鐘

　　掃描電子顯微鏡（SEM)與光學顯微鏡和激光顯微鏡相比，具有焦距更深，分辨率更好的特點。相反，得不到象光學顯微鏡那樣獲得的純自然光澤。我們利用掃描電子顯微鏡的主要特點，可以廣泛應用于科研和生產。


產品參數(shù)

鮮明的SEM圖像上進行高精度測量

從極低倍到高倍，在圖像上就可以直接進行長度和角度測量，即在鮮明的圖像上進行高精度測量。保存后的圖像也可以用SMile View軟件（選購件）打開并進行測量。

3D觀察-測量（選購）

利用掃描電子顯微鏡焦深大的特點，可以進行立體的高度測量。同一個視野，傾斜角度改變10°左右，獲得兩張圖像，進行高度測量。

不僅可以觀察圖像，還可以進行成分分析

不僅可以利用二次電子信息進行樣品表面觀察，還可以利用背散射電子成份襯度像進行異物及多層膜觀察。另外，還可以使用能量分散型光譜儀（EDS）進行元素分析。日本電子產能譜儀JED-2300可以與主機實現(xiàn)一體化，將點鏡擴展為分析型點鏡。




產品介紹




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