芯片級(jí)測(cè)試鎢鋼探針
價(jià) 格:詢價(jià)
產(chǎn) 地:更新時(shí)間:2021-05-13 14:11
品 牌:其他型 號(hào):ST/T-4
狀 態(tài):正常點(diǎn)擊量:2294
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直流測(cè)試探針,針對(duì)不同應(yīng)用有軟針和硬針,針尖直徑有:0.2/1/2/5/10/20微米幾種規(guī)格,長(zhǎng)度38mm和51mm,材質(zhì)有鎢/鈹銅等材質(zhì)。
ST 系列硬針是0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質(zhì)針桿經(jīng)過(guò)精密電化學(xué)加工成為不同的針尖直徑,長(zhǎng)度為1.5inch(38.1mm)的探針。這種探針應(yīng)用與絕大多數(shù)的芯片電極點(diǎn)測(cè)和線路點(diǎn)測(cè)。
ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。該探針可以選擇表面鍍鎳,如果選擇鍍鎳則型號(hào)后面增加“NP”。
ST系列硬針 可耐電壓:1000V、電流1A
ST系列硬針 可耐電壓:1000V、電流1A |
型號(hào) | 針桿直徑 | 針尖直徑 |
ST-20-0.5 | 0.020" (0.51mm) | <1 微米 |
ST-20-1.0 | 0.020" (0.51mm) | <2.0微米 |
ST-20-2.0 | 0.020" (0.51mm) | <4.0微米 |
ST-20-5.0 | 0.020" (0.51mm) | <10.0微米 |
ST-20-10.0 | 0.020" (0.51mm) | <20.0微米 |

