1、非接觸式測(cè)量,用光纖探頭來(lái)接收反射光,不會(huì)破壞和污染薄膜;
2、測(cè)量速度快,測(cè)量時(shí)間為秒的量***;
3、可用來(lái)測(cè)薄膜厚度,也可用來(lái)測(cè)量薄膜的折射率n和消光吸收k;
4、可測(cè)單層薄膜,還可測(cè)多層膜系;
5、可廣泛應(yīng)用于各種介質(zhì),半導(dǎo)體,液晶等透明半透明薄膜材料;
6、軟件的材料庫(kù)中整合了大量材料的折射率和消光系數(shù),可供用戶參考;
7、內(nèi)嵌微型光纖光譜儀,結(jié)構(gòu)緊湊, 光纖光譜儀也可單獨(dú)使用。
8、強(qiáng)大的軟件功能:界面友好,操作簡(jiǎn)便,用戶點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)就可以完成測(cè)量。便捷快速的保存、讀取測(cè)量得到的反射譜數(shù)據(jù)數(shù)據(jù)處理功能強(qiáng)大,可同時(shí)測(cè)量多達(dá)四層的薄膜的反射率數(shù)據(jù)。***次測(cè)量即可得到四層薄膜分別的厚度和光學(xué)常數(shù)等數(shù)據(jù)。材料庫(kù)中包含了大量常規(guī)的材料的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)。用戶可以非常方便地自行擴(kuò)充材料數(shù)據(jù)庫(kù)。